Thématique "Composants de l’électronique de puissance"
27 articles dans cette thématique :
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"Étude des variations des caractéristiques I-V des diodes de puissance à températures cryogéniques : Influence du boîtier"
1 - Laboratoire de génie électrique de Paris (GeePs) ( France), 2 - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (11, rue Joliot CuriePlateau de Moulon91192 Gif sur Yvette France), 3 - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP3 PDF -
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"Implementation of a back barrier to boost the blocking voltage of GaN HEMT on sapphire"
1 - WIde baNd gap materials and Devices - IEMN ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP1 PDF -
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"AlGaN channel high electron mobility transistors on Si for power electronics"
1 - Université Grenoble Alpes - Institut Néel ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP1 PDF -
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"Fabrication et caractérisation de diodes Schottky diamant haute tension protégées par plaque de champ avec empilement Al2O3 /Si3N4"
1 - CEA-Leti et LAAS-CNRS ( France), 2 - CEA-LETI ( France), 3 - LAAS-CNRS, Université de Toulouse (7 Av. du Colonel Roche, 31400 Toulouse France), 4 - LAAS CNRS ( France), 5 - Équipe Intégration de Systèmes de Gestion de l'Énergie (7, avenue du Colonel Roche BP 54200 31031 Toulouse cedex 4 France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SO1-A PDF -
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"Comment la standardisation accélère le déploiement des nouveaux matériaux semiconducteurs SiC et GaN en Génie Electrique"
1 - STMicroelectronics France SAS ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP1 PDF -
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"Optimisation et caractérisation des diodes Schottky en diamant intégrant une fine couche dopée à l'azote"
1 - Institut Néel ( France), 2 - Institut Néel ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP3 PDF -
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"Caractérisation à température cryogénique d'un MOSFET de puissance par la méthode du Double Pulse"
1 - Groupe de Recherche en Energie Electrique de Nancy ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP3 PDF -
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"3-Φ Coupled Inductors Design and Characterisation with Calorimetric Apparatus"
1 - Mitsubishi Electric R&D Centre Europe [France] ( France), 2 - Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP3 PDF -
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"Optimisation de la technologie Ga2O3 pour la réalisation d'une diode Schottky de puissance"
1 - Laboratoire Ampère ( France), 2 - Institut des Nanotechnologies de Lyon ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP1 PDF -
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"Composants magnétiques pour un Dual Active Bridge triphasé (DAB3)"
1 - Institut d'Electronique et des Systèmes (860, rue Saint Priest, Bâtiment 5 - CC 05001 -34095 Montpellier Cedex 5 France), 2 - Génie électrique, Matériaux et Systèmes ( France), 3 - Institut d'Electronique et des Systèmes ( France), 4 - Laboratoire Procédés, Matériaux et Energie Solaire (7 rue du Four Solaire Centre Felix Trombe 66120 Odeillo Font-Romeu France), 5 - GEMS - Génie Electrique Matériaux et Systèmes ( France), 6 - Procédés, Matériaux et Energie Solaire (7 rue du Four Solaire Centre Felix Trombe 66120 Odeillo Font-RomeuTecnosud Rambla de la thermodynamique 66100 Perpignan France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP3 PDF -
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"Transistor à effet de champ interdigité en diamant : augmentation du calibre en courant"
1 - Convertisseurs Statiques ( France), 2 - Diamfab ( France), 3 - Institut Néel ( France), 4 - Convertisseurs Statiques ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SO1-A PDF -
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"Estimateur de temperature pour convertisseur à commuation rapide"
1 - Mitsubishi Electric R&D Centre Europe ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP3 PDF -
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"Etude de la stabilité de la résistance à l'état passant RDSON sur des composants GaN en fonctionnement"
1 - CEA Tech Occitanie ( France), 2 - IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique ( France), 3 - STMicroelectronics France SAS ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP1 PDF -
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"Modélisation semi-analytique des pertes cuivres d'une inductance planar"
1 - Mitsubishi Electric R&D Centre Europe [France] ( France), 2 - L2EP - Équipe Électronique de puissance ( France), 3 - L2EP - Équipe Outils et Méthodes Numériques ( France), 4 - L2EP - Équipe Outils et Méthodes Numériques (OMN) ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP3 PDF -
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"Mesures µ-OBIC sur diode bipolaire Diamant : une première !"
1 - Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (20 Avenue Albert Einstein, 69621 Villeurbanne cedex France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP1 PDF -
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"Mécanismes physiques de HEMT GaN révelés par l'instabilité de la tension de seuil"
1 - Équipe Intégration de Systèmes de Gestion de l'Énergie ( France), 2 - Équipe Intégration de Systèmes de Gestion de l'Énergie ( France), 3 - IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique ( France), 4 - Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (7 Av du colonel Roche 31077 TOULOUSE CEDEX 4 France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP3 PDF -
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"Vers la caractérisation en commutation de transistors diamant à effet de champ de type p"
1 - Convertisseurs Statiques ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP3 PDF -
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"Dopage par épitaxie localisée de nanostructures pour les dispositifs de puissance en GaN"
1 - LAAS-CNRS, Université de Toulouse, CNRS, UPS ( France), 2 - LAAS ( France), 3 - Centre de Recherche sur l'HétéroEpitaxie et ses Applications (Rue Bernard Grégory, 06560 Valbonne France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP1 PDF -
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"Réalisation de thyristors SiC 5×5 mm² avec une JTE simple gravée"
1 - Institut franco-allemand de recherches de Saint-Louis (5 rue du Général Cassagnou, BP 70034, 68301 Saint Louis Cedex France), 2 - Institut franco-allemand de recherches de Saint-Louis ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SO1-A PDF -
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"Diode PIN verticale sur diamant (100) autosupporté à base de couches i et n dopées phosphore"
1 - LAAS-CNRS, Université de Toulouse ( France), 2 - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information ( France), 3 - Groupe d'Etude de la Matière Condensée ( France), 4 - Laboratoire des Sciences des Procédés et des Matériaux ( France), 5 - Laboratoire Ampère ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP1 PDF -
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"Modélisation et mesure de la variation de température à haute fréquence d'un transistor GaN pour les onduleurs de puissance"
1 - IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique ( France), 2 - IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique (118 route de Narbonne, CS 44248 31432 Toulouse cedex 4 France), 3 - IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique ( France), 4 - PPGEE UFMG - Programme d'études supérieures en génie électrique ( Brésil), 5 - IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique (Bât B612, 3 rue Tarfaya,CS 34436, 31405 Toulouse Cedex 4 (France) France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP3 PDF -
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"Comparaison des performances des transistors SiC et GaN 650V pour des applications bidirectionnelles"
1 - GREMAN-UMR7347 ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 1, Session : SP3 PDF -
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"Niveau de saturation du courant de drain et son impact sur la robustesse des transistors GaN en régime de court-circuit répétitif"
1 - Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie ( France), 2 - IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique ( France), 3 - CNAM ( France), 4 - SATIE ( France), 5 - Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie (4 avenue des sciences, 91190, Gif-sur-Yvette France), 6 - Safran Tech ( France), 7 - IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 2, Session : SO6-B PDF -
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"Atténuation des effets de bosse induits par les pièges d'interface dans un condensateur MOS de type p"
1 - Groupe de Recherche en Électrotechnique et Electronique de Nancy (GREEN) ( France), 2 - SPIN lab - Université de Liège ( Belgique), 3 - Electronics Research Group - Institut Montefiore ( Belgique)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 2, Session : SO6-B PDF -
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"Présentation d'une méthodologie d'évaluation de la stabilité de la grille de transistors de puissance Grands Gaps en fonctionnement en fréquence"
1 - CEA Occitanie ( France), 2 - CEA Occitanie ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 2, Session : SO6-B PDF -
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"Méthodologie innovante pour la caractérisation dynamique, reproductible et sans parasite de composants p-GaN HEMTs mise en évidence d'effets exclusivement dynamiques"
1 - LAAS-CNRS ( France), 2 - CEA Occitanie ( France)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 2, Session : SO6-B PDF -
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"Cyclage de puissance à haute fréquence des onduleurs triphasés pour les applications aéronautiques"
1 - Graduate Program in Electrical Engineering Universidade Federal de Minas Gerais ( Brésil), 2 - IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique ( France), 3 - Department of Electronic Engineering, Federal University of Minas (UFMG), Brésil (Av. Antônio Carlos, 6627, Pampulha - Belo Horizonte - MG - CEP 31270-901 BRAZIL Brésil)
Thématique : Composants de l’électronique de puissance 2, Session : SO6-B PDF