Thématique "Composants semi-conducteurs de puissance"
12 articles dans cette thématique :
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"L'effet de la température et de la tension sur des vieillissements HTRB et HTGB pour des HEMTs GaN de puissance"
1 - IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique (France), 2 - Laboratoire de l'Intégration, du Matériau au Système - IMS (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs de puissance, Session : SO-11-PM PDF -
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"Influence de méthodes PWM sur le cyclage thermique des semiconducteurs d'un onduleur SiC triphasé 15kVA"
1 - IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique (France), 2 - Universidade Federal de Minas Gerais (Brésil)
Thématique : Composants semi-conducteurs de puissance, Session : SO-11-PM PDF -
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"Variation de la résistance de contact métal/semi-conducteur dans une structure HEMT GaN sous illumination UV"
1 - Laboratoire d'Analyse et d'Architecture des Systèmes - LAAS (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs de puissance, Session : SO-11-PM PDF -
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"Towards SiC thyristors with amplifying gate design"
1 - Institut franco-allemand de recherches de Saint-Louis - ISL (France), 2 - Laboratoire AMPERE (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs de puissance, Session : SO-21-AM PDF -
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"Transistors Haute Tension de type MOSFET et MESFET en diamant pour l'électronique de puissance"
1 - Institut Néel (France), 2 - National Institute of Advanced Industrial Science and Technology - AIST (Japon), 3 - Tsukuba University of Technology (Japon), 4 - Laboratoire de Génie Electrique de Grenoble - G2Elab (France), 5 - Laboratoire Plasma et Conversion d'Energie - LAPLACE (France), 6 - Tsukuba University of Technology (Japon)
Thématique : Composants semi-conducteurs de puissance, Session : SO-31-AM PDF -
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"Première démonstration expérimentale d'un interrupteur HEMT normally-off en GaN avec une région P-GaN enterrée"
1 - Laboratoire d'Analyse et d'Architecture des Systèmes - LAAS (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs de puissance, Session : SO-11-PM PDF -
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"Etude de la fiabilité de MOSFET SiC sous des régimes extrêmes de fonctionnement répétitifs"
1 - Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Énergie - SATIE (France), 2 - SAFRAN TECH (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs de puissance, Session : SO-21-AM PDF -
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"Méthode de caractérisation de transistors GaN pour la conception des convertisseurs statiques hautes fréquences"
1 - Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - IEMN (France), 2 - Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance - L2EP (France), 3 - Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance - L2EP (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs de puissance, Session : SP-J3-A PDF -
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"Diodes Schottky en Diamant : augmentation du calibre en courant et parallélisation"
1 - Laboratoire de Génie Electrique de Grenoble - G2Elab (France), 2 - Institut Néel (France), 3 - Laboratoire Plasma et Conversion d'Energie - LAPLACE (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs de puissance, Session : SO-31-AM PDF -
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"Commutateurs haute tension à base de MOSFET SiC"
1 - Institut franco-allemand de recherches de Saint-Louis - ISL (France), 2 - Institut franco-allemand de recherches de Saint-Louis - ISL (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs de puissance, Session : SO-21-AM PDF -
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"Estimation des pertes dans les composants semi-conducteurs de puissance par méthode calorimétrique dynamique"
1 - Laboratoire de Génie Electrique de Grenoble - G2Elab (France), 2 - Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Énergie - SATIE (France), 3 - Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Énergie - SATIE (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs de puissance, Session : SO-31-AM PDF -
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"Mesure et analyse de la hauteur de barrière des contacts Schottky Mo sur SiC-4H"
1 - Laboratoire AMPERE (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs de puissance, Session : SP-J3-A PDF
