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Méthode de caractérisation de transistors GaN pour la conception des convertisseurs statiques hautes fréquences
Auteurs :
Affiliations : 1 - Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - IEMN (France), 2 - Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance - L2EP (France), 3 - Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance - L2EP (France)
Thématique :
Composants semi-conducteurs de puissance
Session :
SP-J3-A "Composants semi-conducteurs de puissance"
