Thématique "Sûreté de fonctionnement : fiabilité, vieillissement, diagnostic et systèmes tolérants"

13 articles dans cette thématique :

• Cougo bernardo ¹, Divan Lopes Da Costa israel ^2,1, Tran duc-Hoan ¹, Morais lenin ³, Oliveira De Sousa renata ⁴, Araujo vitor ², Labalette marina ¹, Mendes caio ⁵, Condamin bruno ⁶, Coccetti fabio ¹.
  "Impact des cycles de puissance à hautes fréquences sur la durée de vie des modules de puissance SiC pour le domaine automobile"
  1 - IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique ( France), 2 - PPGEE UFMG - Programme d'études supérieures en génie électrique ( Brésil), 3 - Department of Electronic Engineering [UFMG] ( Brésil), 4 - Universidade Tecnológica Federal do Paraná = Federal Technological University of Paraná [Curitiba, Brésil] ( Brésil), 5 - ST Microelectronics ( France), 6 - Valeo ( Allemagne)
  Thématique : Sûreté de fonctionnement : fiabilité, vieillissement, diagnostic et systèmes tolérants, Session : SO2-B PDF
• Creux jérémy ^1,2, Haje Obeid najla ¹, Boileau thierry ², Meibody-Tabar farid ².
  "Stratégie optimisée de caractérisation d'impédance de machines électriques en rotation pour le suivi de vieillissement des bobinages"
  1 - IFP Energies Nouvelles, Institut Carnot IFPEN Transports Energie, 1 et 4 Avenue de Bois-Préau, 92852 Rueil-Malmaison, France ( France), 2 - Université de Lorraine, CNRS, LEMTA, F-54000 Nancy, France ( France)
  Thématique : Sûreté de fonctionnement : fiabilité, vieillissement, diagnostic et systèmes tolérants, Session : SP1 PDF
• Cuenca juan ¹, Aldea emanuel ², Le Guern-Dall'o eloann ³, Féraud raphaël ⁴, Zorgati riadh ⁵, Petit fabien ⁶, Camilleri guy ⁷, Blavette anne ⁸.
  "Génération de Jeux de Données pour Entraîner un Classificateur de Sécurité de Réseau Électrique Intelligent de Basse Tension"
  1 - Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique ( France), 2 - Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie ( France), 3 - Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique ( France), 4 - Orange Labs [Lannion] ( France), 5 - EDF Labs ( France), 6 - SRD Energies ( France), 7 - Institut de Recherche en Informatique de Toulouse ( France), 8 - Institut d'Electronique et des Technologies du numéRique ( France)
  Thématique : Sûreté de fonctionnement : fiabilité, vieillissement, diagnostic et systèmes tolérants, Session : SO2-B PDF
• Drummond rodrigo ¹, Cougo bernardo ¹, Tran duc Hoan ², Divan Lopes Da Costa israel ^1,3.
  "Banc d'essais de cycles thermiques haute fréquence des modules de puissance en SiC pour onduleurs et redresseurs"
  1 - IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique ( France), 2 - IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique (Bât B612, 3 rue Tarfaya,CS 34436, 31405 Toulouse Cedex 4 (France) France), 3 - PPGEE UFMG - Programme d'études supérieures en génie électrique ( Brésil)
  Thématique : Sûreté de fonctionnement : fiabilité, vieillissement, diagnostic et systèmes tolérants, Session : SP1 PDF
• Galvis daniel ^1,2, Gateau guillaume ¹, Cousineau marc ¹.
  "Methodology to design LCL filter for a DC-DC boost converter with Zero-Voltage-Switching"
  1 - Convertisseurs Statiques ( France), 2 - NXP semiconductors ( France)
  Thématique : Sûreté de fonctionnement : fiabilité, vieillissement, diagnostic et systèmes tolérants, Session : SP1 PDF
• Lavado Villa luiz Fernando ^1,2, Foucher clément ³, Farah Hassan ayoub ^1,2, Alinei jean ⁴.
  "Data-Driven Approaches for Indirect Aging Estimation in Power Converters"
  1 - Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes [Toulouse] ( France), 2 - Équipe Intégration de Systèmes de Gestion de l'Énergie ( France), 3 - Équipe Ingénierie Système et Intégration ( France), 4 - Owntech ( France)
  Thématique : Sûreté de fonctionnement : fiabilité, vieillissement, diagnostic et systèmes tolérants, Session : SP1 PDF
• Millet jules ¹, Depernet daniel ¹, Sari ali ², Gustin frédéric ³, Helbling hugo ².
  "Méthode de mesure d'impédance des batteries Li-ion pour le diagnostic des sources hybrides embarquées en régime dynamique"
  1 - Université Marie et Louis Pasteur, UTBM, CNRS, institut FEMTO-ST, F-90000 Belfort, France ( France), 2 - Université Claude Bernard Lyon 1, Ampère, UMR5005, INSA Lyon, Ecole Centrale de Lyon, CNRS, Villeurbanne, F-69100, France ( France), 3 - Université Marie et Louis Pasteur, CNRS, Institut FEMTO-ST, F-90000 Belfort, France ( France)
  Thématique : Sûreté de fonctionnement : fiabilité, vieillissement, diagnostic et systèmes tolérants, Session : SO2-B PDF
• Richardeau frédéric ¹, Picot-Digoix mathis ², Vinnac sébastien ³, Blaquiere jean-Marc ⁴, Azzopardi stéphane ⁵, Le thanh-Long ⁵.
  "Surveillance en temps réel et à haute précision de la tension de seuil de grille (VGSTH) du MOSFET SiC sur bras d'onduleur MLI par l'insertion d'une commutation spéciale contrôlée par une architecture de gate-driver parallèle"
  1 - LAPLACE, Univ. Toulouse - INPT - Univ. UT3 Paul Sabatier - CNRS ( France), 2 - SAFRAN TECH - SACLAY / LAPLACE ( France), 3 - LAPLACE, Univ. Toulouse - INPT - Univ. UT3 Paul Sabatier - CNRS ( France), 4 - LAPLACE, Univ. Toulouse - INPT - Univ. UT3 Paul Sabatier - CNRS ( France), 5 - SAFRAN TECH - SACLAY ( France)
  Thématique : Sûreté de fonctionnement : fiabilité, vieillissement, diagnostic et systèmes tolérants, Session : SO2-B PDF
• Rouleau corentin ^1,2, Mansoulie karine ¹, Théolier loïc ², Guédon-Gracia alexandrine ².
  "Limitations de l'estimation de la durée de vie restante de composants anciens à partir de composants neufs"
  1 - EDF Power Network Lab ( France), 2 - Laboratoire de l'intégration, du matériau au système ( France)
  Thématique : Sûreté de fonctionnement : fiabilité, vieillissement, diagnostic et systèmes tolérants, Session : SP1 PDF
• Rouvre geoffroy ^1,2, Grillon nathanaël ², Malbert nathalie ¹, Théolier loïc ¹.
  "Méthode de caractérisation sur plaquette de diodes GaN latérales pour le suivi des mesures I(V) au cours de tests de fiabilité"
  1 - Laboratoire de l'intégration, du matériau au système ( France), 2 - STMicroelectronics Tours ( France)
  Thématique : Sûreté de fonctionnement : fiabilité, vieillissement, diagnostic et systèmes tolérants, Session : SP1 PDF
• Tolok Nelem aristide ^1,2,3, Makem mimosette ^4,5, Abanda antoine Yannick ^4,5, Ele pierre ^6,7.
  "Detection des anomalies de dysfonctionnement des disjoncteurs électriques par segmentation d'image IR"
  1 - Centre Universitaire de Recherche en Energie pour la Santé, Cameroun ( Cameroun), 2 - Ecole Normale Supérieure d'Enseignement Technique d'Ebolowa, Cameroun ( Cameroun), 3 - Laboratoire d'Electrotechnique, d'Automatique et d'Energétique, Université d'Ebolowa, Cameroun ( Cameroun), 4 - Ecole Normale Supérieure d'Enseignement Technique d'Ebolowa, Université d'Ebolowa, Cameroun ( Cameroun), 5 - Laboratoire Signaux et Systèmes, Université d'Ebolowa, Cameroun ( Cameroun), 6 - Ecole Nationale Supérieure Polytechnique de Yaoundé, Université de Yaoundé I, Cameroun ( Cameroun), 7 - Centre Universitaire de Recherche en Energie pour la Santé, Université de Yaoundé I, Cameroun ( Cameroun)
  Thématique : Sûreté de fonctionnement : fiabilité, vieillissement, diagnostic et systèmes tolérants, Session : SP1 PDF
• Vadebout thomas ¹, Bevilacqua pascal ¹, Rustichelli valeria ², Morel hervé ³, Alam maroun ², Allirand laurence ⁴.
  "Étude de la fiabilité des GaN SP-HEMT sous surtensions en commutation dure"
  1 - Ampère, Département Energie Electrique ( France), 2 - IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique ( France), 3 - Laboratoire Ampere ( France), 4 - Vitesco Technologies ( France)
  Thématique : Sûreté de fonctionnement : fiabilité, vieillissement, diagnostic et systèmes tolérants, Session : SP1 PDF
• Valat-Marty aude ^1,2, Oliveira joao ², Morel hervé ¹.
  "Méthode d'étude de fiabilité de MOSFET SiC mis en parallèle soumis à une avalanche"
  1 - Laboratoire Ampere ( France), 2 - IRT Saint Exupéry - Institut de Recherche Technologique ( France)
  Thématique : Sûreté de fonctionnement : fiabilité, vieillissement, diagnostic et systèmes tolérants, Session : SP1 PDF