Session "Composants semi-conducteurs de puissance" (SP-1B)
mardi 07 juin 2016,
14h30 — 16h00,
Salle des forums
session poster
Président(e)s : Edith CLAVEL (G2ELab - Grenoble), Pierre LEFRANC (G2Elab - Grenoble)
9 articles dans cette session :
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"Design and optimization of IGBT gate drivers for high insulation voltage up to 30kV"
1 - Laboratoire de Génie Electrique de Grenoble - G2Elab (France)
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"Étude en simulation et conception d'un transistor bipolaire (BJT) 10 kV en 4H-SiC"
1 - ITE Supergrid Institute (France), 2 - Laboratoire AMPERE (France), 3 - CALY Technologies (France)
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"Modèle analytique d'estimation des pertes dans une cellule de commutation MOSFET-diode Schottky SiC en vue de la conception et de l'optimisation d'un dissipateur thermique"
1 - Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie - SATIE (France), 2 - Laboratoire de Génie Electrique de Grenoble - G2Elab (France), 3 - Laboratoire AMPERE (France)
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"Characterization and modeling of 1200V - 100A N - channel 4H-SiC MOSFET"
1 - Groupe de Recherche en Electrotechnique et Electronique de Nancy - GREEN (France)
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"Diodes Schottky diamant fonctionnant à 200°C"
1 - Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes - LAAS (France), 2 - Ion Beam Services - IBS (France), 3 - Laboratoire des Sciences des Procédés et des Matériaux - LSPM (France), 4 - Institut Néel (France)
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"Contributions aux circuits de commande gate driver dédiés à la haute température et aux très fortes vitesses de commutation"
1 - Laboratoire de Génie Electrique de Grenoble - G2Elab (France), 2 - Laboratoire AMPERE (France), 3 - Laboratoire IMEP-LAHC (France)
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"Gummel-Poon modeling of a New Super-Gain BJT and an innovative 600V AC switch"
1 - Groupe de Recherche en Matériaux, Microélectronique, Acoustique et Nanotechnologies - GREMAN (France), 2 - Polytech'Tours (France), 3 - STMicroelectronics (France)
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"Simulation numérique et caractérisation de composants de puissance en diamant"
1 - Laboratoire de Génie Electrique de Grenoble - G2Elab (France), 2 - Institut Néel (France)
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"Tolérance aux défauts de type court-circuit d'interrupteurs de puissance en SiC utilisés dans un convertisseur DC/DC entrelacé"
1 - Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie - SATIE (France), 2 - FEMTO-ST Institute (France), 3 - FCLAB (France)
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