Thématique "Composants semi-conducteurs"
17 articles dans cette thématique :
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"Nouveaux contacts électriques sur SiC-4H de type p : réalisation de phases MAX"
1 - Laboratoire AMPERE (France), 2 - Laboratoire des Multimatériaux et Interfaces (France), 3 - Institut P' CNRS - Université de Poitiers - ENSMA UPR 3346 SP2MI (France), 4 - Institut des nanotechnologies de Lyon - Site d'Ecully (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SP-J3-A PDF -
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"Optimisation d'une fonction de transmission d'ordres pour driver à très haute isolation galvanique. Application aux modules IGBT pour onduleurs multi-niveaux MMC (Multilevel Modular Converters)."
1 - Laboratoire G2ELab (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SP-J3-A PDF -
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"Optimisation de la terminaison d'une diode Schottky diamant haute tension"
1 - Laboratoire LAAS (France), 2 - Laboratoire AMPERE (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SP-J3-A PDF -
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"Modélisation phénoménologique de la caractéristique IV en direct de diodes Schottky/JBS en carbure de silicium"
1 - Laboratoire AMPERE (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SP-J3-A PDF -
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"Chargeur de condensateurs de forte puissance utilisant des IGCT dans un convertisseur Boost"
1 - Institut Franco-Allemand de recherches de Saint-Louis (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SP-J3-A PDF -
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"Estimation des pertes dans les transistors bipolaires SiC"
1 - Laboratoire SATIE (France), 2 - Laboratoire AMPERE (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SP-J3-A PDF -
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"Simulation multiphysique pour la conception busbars laminés"
1 - Laboratoire LAPLACE (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SP-J3-A PDF -
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"Imagerie 2D du champ électrique dans les diodes SiC-4H haute tension par la technique OBIC"
1 - Laboratoire AMPERE (France), 2 - Institut Franco-Allemand de recherches de Saint-Louis (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SO-J3-A PDF -
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"Un interrupteur GaN HEMT normally-off grâce à des ions fluor implantés sous l'interface AlGaN/GaN"
1 - Université Libanaise (UL-GET/LPE) (Liban), 2 - Laboratoire LAAS (France), 3 - CEA Tech Midi-Pyrénées (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SO-J3-A PDF -
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"Simulation d'une structure générique RC-IGBT sans "tension de retournement" adaptée à l'intégration monolithique de cellules de commutation sur puce Si"
1 - Laboratoire LAAS (France), 2 - Laboratoire LAPLACE (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SO-J3-A PDF -
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"Caractérisation des capacités inter-électrodes d'un SiC-JFET " Normally-off " en régime désaturé"
1 - Laboratoire L2EP (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SP-J3-A PDF -
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"Optimisation de la diode à Superjonction et à tranchées profondes pour des applications à 600V"
1 - Laboratoire LAAS (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SO-J3-A PDF -
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"Etude sur les transistors MOSFETs en Carbure de Silicium. Potentiel d'utilisation dans les Applications Hautes Températures"
1 - THALES Microelectronics (France), 2 - Laboratoire AMPERE (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SO-J3-A PDF -
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"Structure bipolaire bidirectionnelle en courant et en tension sur silicium (BipAC)"
1 - Université Paul Sabatier-Toulouse III (France), 2 - Laboratoire LAAS (France), 3 - Université de Toulouse (France), 4 - STMicroelectronics (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SP-J3-A PDF -
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"Conception de thyristors SiC permettant l'étude de l'amplification interne de l'allumage"
1 - Institut Franco-Allemand de recherches de Saint-Louis (France), 2 - Laboratoire AMPERE (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SP-J3-A PDF -
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"Automatisation de la vérification du réseau ESD sur silicium : un enjeu majeur pour les circuits intégrés en technologies CMOS avancées"
1 - STMicroelectronics (France), 2 - Laboratoire AMPERE (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SO-J3-A PDF -
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"Durcissement des IGBT planar contre le déclenchement de « Single-Event Burnout »"
1 - Laboratoire LAAS (France)
Thématique : Composants semi-conducteurs, Session : SP-J3-A PDF