Session "Composants semi-conducteurs" (SP-J3-A)
jeudi 10 juillet 2014,
09h30 — 10h30,
Hall Villon
session poster
Président(e)s : Pierre BROSSELARD (AMPERE, Lyon), Zoubir KHATIR (IFSTTAR-LTN, Satory), Nicolas ROUGER (G2ELab, Grenoble)
11 articles dans cette session :
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"Nouveaux contacts électriques sur SiC-4H de type p : réalisation de phases MAX"
1 - Laboratoire AMPERE (France), 2 - Laboratoire des Multimatériaux et Interfaces (France), 3 - Institut P' CNRS - Université de Poitiers - ENSMA UPR 3346 SP2MI (France), 4 - Institut des nanotechnologies de Lyon - Site d'Ecully (France)
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"Optimisation d'une fonction de transmission d'ordres pour driver à très haute isolation galvanique. Application aux modules IGBT pour onduleurs multi-niveaux MMC (Multilevel Modular Converters)."
1 - Laboratoire G2ELab (France)
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"Optimisation de la terminaison d'une diode Schottky diamant haute tension"
1 - Laboratoire LAAS (France), 2 - Laboratoire AMPERE (France)
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"Modélisation phénoménologique de la caractéristique IV en direct de diodes Schottky/JBS en carbure de silicium"
1 - Laboratoire AMPERE (France)
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"Chargeur de condensateurs de forte puissance utilisant des IGCT dans un convertisseur Boost"
1 - Institut Franco-Allemand de recherches de Saint-Louis (France)
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"Estimation des pertes dans les transistors bipolaires SiC"
1 - Laboratoire SATIE (France), 2 - Laboratoire AMPERE (France)
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"Simulation multiphysique pour la conception busbars laminés"
1 - Laboratoire LAPLACE (France)
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"Caractérisation des capacités inter-électrodes d'un SiC-JFET " Normally-off " en régime désaturé"
1 - Laboratoire L2EP (France)
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"Structure bipolaire bidirectionnelle en courant et en tension sur silicium (BipAC)"
1 - Université Paul Sabatier-Toulouse III (France), 2 - Laboratoire LAAS (France), 3 - Université de Toulouse (France), 4 - STMicroelectronics (France)
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"Conception de thyristors SiC permettant l'étude de l'amplification interne de l'allumage"
1 - Institut Franco-Allemand de recherches de Saint-Louis (France), 2 - Laboratoire AMPERE (France)
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"Durcissement des IGBT planar contre le déclenchement de « Single-Event Burnout »"
1 - Laboratoire LAAS (France)
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