Thématique "Contraintes d'usage"
9 articles dans cette thématique :
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"Impact CEM haute fréquence des commutations dans un convertisseur Buck. Etude analytique et application aux structures parallèles à commandes entrelacées."
1 - Laboratoire LAPLACE (France), 2 - Freescale Semiconductors (France)
Thématique : Contraintes d'usage, Session : SO-J2am-A PDF -
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"Fiabilité d'une diode DT2 reportée sur un substrat DBC par frittage de pâte d'argent"
1 - Laboratoire IMS (France)
Thématique : Contraintes d'usage, Session : SP-J2-A PDF -
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"Gestion de Pack Batterie par communication CAN-CPL"
1 - Institut d'Electronique et de Télécommunications de Rennes (France), 2 - Institut National de l'Energie Solaire (France)
Thématique : Contraintes d'usage, Session : SO-J2am-A PDF -
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"Banc de test de transistors MOSFET de puissance sous irradiation par ions lourds"
1 - Institut d'Electronique du Sud IES (France)
Thématique : Contraintes d'usage, Session : SO-J2am-A PDF -
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"Modélisation analytique du champ rayonné par les composants à noyau torique pour le calcul de l'inductance de fuite"
1 - Laboratoire SATIE (France)
Thématique : Contraintes d'usage, Session : SO-J2am-A PDF -
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"Stratégie de modulation pour la réduction de la tension de mode commun générée par un variateur de vitesse à redresseur MLI"
1 - Schneider Electric (France), 2 - Laboratoire L2EP (France)
Thématique : Contraintes d'usage, Session : SO-J2am-A PDF -
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"Plateforme de caractérisation pour composants grand-gap et modèle EBEM-CE associé"
1 - Laboratoire SATIE (France)
Thématique : Contraintes d'usage, Session : SO-J2am-A PDF -
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"Etude comparative de l'effet des contraintes électriques extrêmes : application aux composants « Smart Power »"
1 - Laboratoire SATIE (France), 2 - Université Paris-Est Marne La Vallée (France), 3 - Freescale Semiconductors (France)
Thématique : Contraintes d'usage, Session : SP-J2-A PDF -
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"Modèle de Prédiction des Couplages par Diaphonie entre les Signaux de Commande et de Puissance d'un Hacheur Survolteur"
1 - Laboratoire LTSS, Université Amar Telidji, Laghouat, Algérie (Algérie), 2 - Groupe de Recherche en Matériaux, Microélectronique, Acoustique et Nanotechnologies (France)
Thématique : Contraintes d'usage, Session : SP-J2-A PDF