Résumé

La montée en tension du réseau photovoltaïque (PV) permet d'importantes réductions des couts CAPEX (Capital Expenditures) de par la diminution des sections de câbles. Cependant, cette augmentation de tension induit une accentuation des effets PID (Potential Induced Degradation) déjà très présents à des tensions inférieures à 1,5 kV. Cette étude se concentre donc sur l'étude électrique de composants comme le verre, l'encapsulant. Sont reportés ici des résultats de mesure confirmant la conductivité ionique dans le verre étudié, présentant les différents comportements des encapsulants face à une augmentation de la tension ainsi qu'une mise en évidence de la migration des ions sodium à travers l'encapsulant, mettant en évidence les mécanismes de dégradation liés à la présence d'une tension électrique. Des premières mesures de dégradation PID à - 3 kV DC sur des modules PERC (Passivated Emitter and Rear Cell) ont permis de souligner l'importance du choix de l'encapsulant, en accord avec les mesures de caractérisation faites au préalable.