Reliability, power losses and volume comparison for isolated DC/DC converters using Si and GaN devices

Auteurs : Ribeiro De Faria Kelly ¹, Phulpin Tanguy ¹, Sadarnac Daniel ¹, Karimi Charif ¹, Bendani Larbi ²

Affiliations : 1 - Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris - GeePs (France), 2 - Valeo (France)

Thématique : Systèmes de conversion de l'énergie électrique
Session : SO-25-AM "Systèmes de conversion de l'énergie électrique"